OBERFLÄCHENMESSTECHNIK

MULTI•SENSORIK FÜR RAUHEIT, WELLIGKEIT, PROFIL

KONFOKALMIKROSKOP

Das Konfokalmikroskop

OptoSurf • OptoShaft OS 500, System zur Oberflächenanalyse

Die Streulichttechnologie ist ein alternatives Messverfahren zur Erfassung der Mikrogeometrie technischer Oberflächen. Die winkelauflösende Messmethode von Streulicht basiert auf dem Gesetz der Lichtstreuung und dem Spiegelfacettenmodell: einfallendes Licht wird von den Mikroprofilwinkeln einer rauen Oberfläche reflektiert. Mit einer Fourieroptik wird das reflektierte Licht in die Brennebene übertragen. Ein Detektor erfasst die Intensitätsverteilung, die der Häufigkeitsverteilung des Streuwinkels entspricht.

Das Streulichtverfahren ist auch in der Lage, die Makrogeometrie (Formprofil) der Oberfläche zu beurteilen. Ergebnisse von Streulichtmessungen können kalibriert werden. Die Rundheit und Welligkeit sind auf internationale Standards rückführbar. Das optische Ergebnis für die Oberflächenrauheit „Aq“ ist ein neuer Parameter, der nicht mit den allgemein bekannten Werten Ra und Rz, sondern mit dem gelegentlich verwendeten Rdq-Wert korreliert.


Mit dem OS500 von OptoSurf können insbesondere hochglänzende Oberflächen, wie z.B. von Walzen, oder die Lagersitze von Getriebewellen und Motorwellen geprüft werden, die hohen Anforderungen an Rundheit, Rauheit und Welligkeit unterliegen. Welligkeit führt zu einer Geräuscherzeugung und eine erhöhte Rauheit zum Verschleiß.

Da eine Bildung von Rattermarken beim Schleifen nicht vorhergesagt werden kann, kann erst durch eine einhundertprozentige Prüfung der Formtoleranz vermieden werden, dass fehlerhafter Bauteile in Getriebe und Motoren eingebaut werden.

Mountains® • Oberflächenanalyse-Software

Die von Tausenden von Ingenieuren, Wissenschaftlern und Messtechnikern weltweit eingesetzte MountainsMap®-Software ist das Mittel der Wahl in der 2D- und 3D-Oberflächentexturanalyse und -messtechnik zur Verwendung mit Profilometern und anderen Oberflächenmessinstrumenten. Visualisierung, Korrektur und Analyse von Profilen und Oberflächen - Rauheits- und Welligkeitsfilter gemäß ISO 16610 - Berechnung von ISO-Profilen und Flächenparametern - Extraktion funktionaler und messtechnischer Informationen aus Ihren Daten mithilfe fortschrittlicher Werkzeuge: Fourier-Analyse, Partikelanalyse, Stufenhöhe, Formanpassung, Wavelet-Filter, Fraktalanalyse usw.

Mountains® • Broschüre