OBERFLÄCHENMESSTECHNIK

MULTI•SENSORIK FÜR MIKROSTRUKTUREN, RAUHEIT, WELLIGKEIT UND PROFIL

Die berührungslose Erfassung von technischen Oberflächen bietet erhebliche Vorteile gegenüber taktilen Messmethoden. Drei optisch basierte Technologien stechen hier besonders hervor:

  • KONFOKALMIKROSKOPIE
  • WEISSLICHTINTERFEROMETERIE
  • CHROMATISCH-KONFOKALE SPEKTROSKOPIE

 

MICRONISE OBERFLÄCHENMESSGERÄTE lassen sich wahlweise mit jeder dieser drei Technologien ausstatten, je nachdem, welches Messprinzip am besten für die jeweilige Messaufgabe geeignet ist.

 
KONFOKALMIKROSKOPIE

Die Konfokalmikroskopie wird in der Norm ISO 25718 als berührungslose Methode für die Messung der Rauheit beschrieben. Die optischen Querschnitte der Probe können mit einer Auflösung bis hinunter zu 10nm übereinandergelegt werden. Dadurch lassen sich mit dieser Technologie feinste Rauheiten exakt bestimmen.

WEISSLICHTINTERFEROMETERIE

Die Weißlichtinterferometrie (WLI) ist eine berührungslose optische Messmethode, welche die Interferenz breitbandigen Lichts (Weißlicht) ausnutzt und so 3D-Profilmessungen von Strukturen mit Abmessungen zwischen einigen Zentimetern und einigen Mikrometern erlaubt.

CHROMATISCH-KONFOKALE SPEKTROSKOPIE

Die chromatisch-konfokale Abstandsmessung nutzt die Vorteile der Konfokaltechnik in Verbindung mit einem Spektrometer. Damit eignet sich diese Technologie hervorragend sowohl für transparente, hochglänzende, als auch matt schwarze Oberflächen. Bestimmt werden können neben der Ebenheit und Form eines Objektes auch Rauheitsparameter. Neben Punktsensoren, stehen auch Liniensensoren zur Verfügung, welche ein schnelles Abscannen der Oberfläche ermöglichen.

Mountains® • Oberflächenanalyse-Software

Die von Tausenden von Ingenieuren, Wissenschaftlern und Messtechnikern weltweit eingesetzte MountainsMap®-Software ist das Mittel der Wahl in der 2D- und 3D-Oberflächentexturanalyse und -messtechnik zur Verwendung mit Profilometern und anderen Oberflächenmessinstrumenten. Visualisierung, Korrektur und Analyse von Profilen und Oberflächen - Rauheits- und Welligkeitsfilter gemäß ISO 16610 - Berechnung von ISO-Profilen und Flächenparametern - Extraktion funktionaler und messtechnischer Informationen aus Ihren Daten mithilfe fortschrittlicher Werkzeuge: Fourier-Analyse, Partikelanalyse, Stufenhöhe, Formanpassung, Wavelet-Filter, Fraktalanalyse usw.

Mountains® • Broschüre