OBERFLÄCHENMESSTECHNIK

MULTI•SENSORIK FÜR MIKROSTRUKTUREN, RAUHEIT, WELLIGKEIT UND PROFIL

Die berührungslose Erfassung von technischen Oberflächen bietet erhebliche Vorteile gegenüber taktilen Messmethoden. Drei optisch basierte Technologien stechen hier besonders hervor:

  • KONFOKALMIKROSKOPIE
  • WEISSLICHTINTERFEROMETERIE
  • CHROMATISCH-KONFOKALE SPEKTROSKOPIE

 

MICRONISE OBERFLÄCHENMESSGERÄTE lassen sich wahlweise mit jeder dieser drei Technologien ausstatten, je nachdem, welches Messprinzip am besten für die jeweilige Messaufgabe geeignet ist.

 
KONFOKALMIKROSKOPIE

Die Konfokalmikroskopie wird in der Norm ISO 25718 als berührungslose Methode für die Messung der Rauheit beschrieben. Die optischen Querschnitte der Probe können mit einer Auflösung bis hinunter zu 10nm übereinandergelegt werden. Dadurch lassen sich mit dieser Technologie feinste Rauheiten exakt bestimmen.

WEISSLICHTINTERFEROMETERIE

Die Weißlichtinterferometrie (WLI) ist eine berührungslose optische Messmethode, welche die Interferenz breitbandigen Lichts (Weißlicht) ausnutzt und so 3D-Profilmessungen von Strukturen mit Abmessungen zwischen einigen Zentimetern und einigen Mikrometern erlaubt.

CHROMATISCH-KONFOKALE SPEKTROSKOPIE

Die chromatisch-konfokale Abstandsmessung nutzt die Vorteile der Konfokaltechnik in Verbindung mit einem Spektrometer. Damit eignet sich diese Technologie hervorragend sowohl für transparente, hochglänzende, als auch matt schwarze Oberflächen. Bestimmt werden können neben der Ebenheit und Form eines Objektes auch Rauheitsparameter. Neben Punktsensoren, stehen auch Liniensensoren zur Verfügung, welche ein schnelles Abscannen der Oberfläche ermöglichen.

Mountains® • Oberflächenanalyse-Software

Die von Tausenden von Ingenieuren, Wissenschaftlern und Messtechnikern weltweit eingesetzte MountainsMap®-Software ist das Mittel der Wahl in der 2D- und 3D-Oberflächentexturanalyse und -messtechnik zur Verwendung mit Profilometern und anderen Oberflächenmessinstrumenten. Visualisierung, Korrektur und Analyse von Profilen und Oberflächen - Rauheits- und Welligkeitsfilter gemäß ISO 16610 - Berechnung von ISO-Profilen und Flächenparametern - Extraktion funktionaler und messtechnischer Informationen aus Ihren Daten mithilfe fortschrittlicher Werkzeuge: Fourier-Analyse, Partikelanalyse, Stufenhöhe, Formanpassung, Wavelet-Filter, Fraktalanalyse usw.

Mountains® • Broschüre

OptoSurf • OptoShaft OS 500

 

Die Streulichttechnologie ist ein alternatives Messverfahren zur Erfassung der Mikrogeometrie technischer Oberflächen. Die winkelauflösende Messmethode von Streulicht basiert auf dem Gesetz der Lichtstreuung und dem Spiegelfacettenmodell: einfallendes Licht wird von den Mikroprofilwinkeln einer rauen Oberfläche reflektiert. Mit einer Fourieroptik wird das reflektierte Licht in die Brennebene übertragen. Ein Detektor erfasst die Intensitätsverteilung, die der Häufigkeitsverteilung des Streuwinkels entspricht.

Das Streulichtverfahren ist auch in der Lage, die Makrogeometrie (Formprofil) der Oberfläche zu beurteilen. Ergebnisse von Streulichtmessungen können kalibriert werden. Die Rundheit und Welligkeit sind auf internationale Standards rückführbar. Das optische Ergebnis für die Oberflächenrauheit „Aq“ ist ein neuer Parameter, der nicht mit den allgemein bekannten Werten Ra und Rz, sondern mit dem gelegentlich verwendeten Rdq-Wert korreliert.


Mit dem OS500 von OptoSurf können insbesondere hochglänzende Oberflächen, wie z.B. von Walzen, oder die Lagersitze von Getriebewellen und Motorwellen geprüft werden, die hohen Anforderungen an Rundheit, Rauheit und Welligkeit unterliegen. Welligkeit führt zu einer Geräuscherzeugung und eine erhöhte Rauheit zum Verschleiß.

Da eine Bildung von Rattermarken beim Schleifen nicht vorhergesagt werden kann, kann erst durch eine einhundertprozentige Prüfung der Formtoleranz vermieden werden, dass fehlerhafter Bauteile in Getriebe und Motoren eingebaut werden.

SmartScan Tablet • Portables Profilometer

Smart Scan 300 Tragbares, lasergestütztes Profilometer

Das Smart Scan (SmS) bietet eine innovative Lösung um nahezu jede Oberflächengeometrie mit Hilfe des integrierten Smartphones zu vermessen. Dabei zeichnet sich das SmS durch sein geringes Gewicht und seine kompakte Abmessung aus. Das integrierte Smartphone ermittelt und speichert dabei in der dazugehörigen App das Profilverlauf und ermöglicht somit eine sofortige Analyse des Profils.

Details

• Aufnahme des Profils
• 2D-Darstellung der aufgenommenen Radien,
  Winkel, Abstände und Höhendifferenzen
• Automatische Profiltiefenbestimmung
• Bearbeitungs- und Auswertungsoptionen
  direkt auf dem Smartphone oder an einem externen PC
• Bildaufnahme des Messobjektes
• Protokollausdruck
• Export der Messdaten
• Kabelloser Datentransfer
• Aufbewahrungskoffer

Technische Daten

• Batteriebetrieben
• Auflösung: 0,1 mm
• Messtiefe: 100 mm
• Messbreite: 300 mm
• Laserklasse: 2M
• Messabstand: 280mm • Gewicht: 1,2 kg